关于举行2019年分析测试中心技术系列讲座之二——超薄切片技术与应用的通知

发布时间:2019-04-19设置

讲座主题:超薄切片技术与应用
讲 座 人:杨辑  工程师
讲座时间:425(星期四)下午300-400
讲座地点:分析测试中心四楼会议室(五山校区20号楼409室)
讲座内容:1. 超薄切片技术简介;
2. 超薄切片技术在各种材料中的应用。
欢迎感兴趣的老师和同学参加!
 
 
分析测试中心
2019419

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